Microscópio metalúrgico ereto de pesquisa motorizada BS-6026RF
BS-6026TRF (vista frontal)
BS-6026TRF (vista lateral esquerda)
Introdução
Os microscópios metalúrgicos verticais motorizados da série BS-6026 com foco automático foram projetados para apresentar uma experiência de observação segura, confortável e precisa. O estágio XY motorizado, foco automático, controlador de tela sensível ao toque, software poderoso e joystick facilitarão seu trabalho. O software possui controle de movimento, fusão de profundidade de campo, troca de lente objetiva, controle de brilho, foco automático, digitalização de área e funções de costura de imagem.
Com amplo campo de visão, alta definição e objetivas metalúrgicas semi-apocromáticas e apocromáticas de campo claro/escuro, sistema operacional ergonômico, eles nascem para fornecer uma solução de pesquisa perfeita e desenvolver um novo padrão de pesquisa industrial.
Uma tela LCD sensível ao toque na frente do microscópio, que pode mostrar informações de ampliação e iluminação.
Características
1. Excelente sistema óptico infinito.
Com o excelente sistema óptico infinito, o microscópio metalúrgico vertical da série BS-6026 fornece imagens de alta resolução, alta definição e correção de aberração cromática que podem exibir muito bem os detalhes de sua amostra.
2. Projeto Modular.
Os microscópios da série BS-6026 foram projetados com modularidade para atender a diversas aplicações industriais e de ciência de materiais. Dá aos usuários flexibilidade para construir um sistema para necessidades específicas.
3. Adote o motor de linha e o modo de aparafusamento.
Mecanismo de foco elétrico baixo, operação independente das rodas esquerda e direita, ajuste de três velocidades, faixa de foco de 30 mm, precisão de posicionamento repetido: 0,1 μm.
4. A inclinação da cabeça trinocular é opcional.
(1) O tubo ocular pode ser ajustado de 0°-35°.
(2) Câmeras digitais ou câmeras DSLR podem ser conectadas ao tubo trinocular.
(3) O divisor de feixe possui 3 posições (100:0, 20:80, 0:100).
(4) A barra divisora pode ser montada em qualquer lado de acordo com as necessidades do usuário.
5. Pode ser controlado pela alavanca de controle(joystick), tela LCD sensível ao toque e software.
Alça de controle
Este microscópio pode realizar brilho de LED, troca de lente objetiva, foco automático e ajuste elétrico do eixo XYZ por meio do software e da alça de controle. O software pode realizar fusão de profundidade de campo, troca de lente objetiva, controle de brilho, foco automático, digitalização de área, costura de imagem e outras funções.
6. Confortável e fácil de usar.
(1) NIS45 Plano Infinito Semi-APO e APO Objetivos de campo claro e campo escuro.
Com vidro altamente transparente e tecnologia de revestimento avançada, a lente objetiva NIS45 pode fornecer imagens de alta resolução e reproduzir com precisão a cor natural das amostras. Para aplicações especiais, uma variedade de objetivas está disponível, incluindo polarização e longa distância de trabalho.
(2) Nomarski DIC.
Com o módulo DIC recém-projetado, a diferença de altura de uma amostra que não pode ser detectada com campo claro torna-se uma imagem em relevo ou 3D. É ideal para a observação de partículas condutoras de LCD e arranhões na superfície do disco rígido, etc.
7. Vários métodos de observação.
Campo Escuro (Wafer)
Darkfield permite a observação de luz espalhada ou difratada da amostra. Qualquer coisa que não seja plana reflete essa luz, enquanto tudo que é plano parece escuro, de modo que as imperfeições se destacam claramente. O usuário pode identificar a existência de até mesmo um pequeno arranhão ou falha até o nível de 8 nm – menor que o limite de potência de resolução de um microscópio óptico. Darkfield é ideal para detectar pequenos arranhões ou falhas em uma amostra e examinar amostras de superfície espelhada, incluindo wafers.
Contraste de interferência diferencial (partículas condutoras)
DIC é uma técnica de observação microscópica na qual a diferença de altura de uma amostra não detectável com campo claro torna-se uma imagem em relevo ou tridimensional com melhor contraste. Esta técnica utiliza luz polarizada e pode ser personalizada com a escolha de três prismas especialmente projetados. É ideal para examinar amostras com diferenças de altura mínimas, incluindo estruturas metalúrgicas, minerais, cabeças magnéticas, mídia de disco rígido e superfícies de wafer polidas.
Observação de luz transmitida (LCD)
Para amostras transparentes, como LCDs, plásticos e materiais de vidro, a observação da luz transmitida está disponível usando uma variedade de condensadores. O exame de amostras em campo claro transmitido e luz polarizada pode ser realizado em um sistema conveniente.
Luz Polarizada (Amianto)
Esta técnica de observação microscópica utiliza luz polarizada gerada por um conjunto de filtros (analisador e polarizador). As características da amostra afetam diretamente a intensidade da luz refletida através do sistema. É adequado para estruturas metalúrgicas (ou seja, padrão de crescimento de grafite em ferro fundido nodular), minerais, LCDs e materiais semicondutores.
Aplicativo
Os microscópios metalúrgicos verticais com foco automático motorizado da série BS-6026 são amplamente utilizados em institutos e laboratórios para observar e identificar a estrutura de vários metais e ligas, também podem ser usados na indústria eletrônica, química e de semicondutores, como wafer, cerâmica, circuitos integrados , chips eletrônicos, placas de circuito impresso, painéis LCD, filmes, pó, toner, fios, fibras, revestimentos revestidos, outros materiais não metálicos e assim por diante.
Especificação
| Item | Especificação | BS-6026RF | BS-6026TRF | |
| Sistema Óptico | Sistema óptico com correção de cores infinitas NIS45 (Tubecomprimento: 200mm) | ● | ● | |
| Cabeça de visualização | Cabeça Trinocular Inclinável Ergo, ajustável 0-35° inclinada, distância interpupilar 47mm-78mm; relação de divisão ocular: trinocular = 100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ○ | ○ | |
| Cabeça Trinocular Seidentopf, inclinada 30°, distância interpupilar: 47mm-78mm; relação de divisão ocular: trinocular = 100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ● | ● | ||
| Cabeça binocular Seidentopf, inclinada 30°, distância interpupilar: 47mm-78mm | ○ | ○ | ||
| Ocular | Ocular de plano de campo super amplo SW10X/25mm, dioptria ajustável | ● | ● | |
| Ocular de plano de campo super amplo SW10X/22mm, dioptria ajustável | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo extra amplo EW12.5X/16mm, ajustável em dioptria | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo amplo WF15X/16mm, ajustável em dioptria | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo amplo WF20X/12mm, ajustável em dioptria | ○ | ○ | ||
| Objetivo | Objetivo Semi-APO do Plano LWD Infinito NIS45 (BF e DF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA = 0,45, WD = 3,0 mm | ● | ● | ||
| Objetivo APO do plano LWD infinito NIS45 (BF e DF) | 50X/NA = 0,8, WD = 1,0 mm | ● | ● | |
| 100X/NA = 0,9, WD = 1,0 mm | ● | ● | ||
| Objetivo Semi-APO do Plano LWD Infinito NIS60 (BF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA = 0,45, WD = 3,0 mm | ○ | ○ | ||
| Objetivo APO do Plano LWD Infinito NIS60 (BF) | 50X/NA = 0,8, WD = 1,0 mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA = 0,9, WD = 1,0 mm | ○ | ○ | ||
| Porta-objetivas | Porta-objetivas sêxtuplo motorizado para trás (com slot DIC) | ● | ● | |
| Condensador | Condensador LWD NA0.65 | ○ | ● | |
| Iluminação Transmitida | Lâmpada halógena 12V/100W, iluminação Kohler, com filtro ND6/ND25 | ○ | ● | |
| Lâmpada S-LED de 3W, centro predefinido, intensidade ajustável | ○ | ○ | ||
| Iluminação refletida | Luz refletida Lâmpada halógena de 12W/100W, iluminação Koehler, com torre de 6 posições | ● | ● | |
| 1Casa de lâmpada halógena 00W | ● | ● | ||
| BMódulo de campo brilhante F1 | ● | ● | ||
| BMódulo de campo claro F2 | ● | ● | ||
| DMódulo de campo escuro F | ● | ● | ||
| BFiltro ND6, ND25 integrado e filtro de correção de cores | ● | ● | ||
| MControle otorizado | Painel de controle do porta-objetivas com botões. 2 dos objetivos mais comumente usados podem ser definidos e alternados pressionando o botão verde. A intensidade da luz será ajustada automaticamente após alterar a objetiva | ● | ● | |
| Foco | Mecanismo de foco automático motorizado de mão baixa, operação independente das rodas esquerda e direita, ajuste de velocidade de três velocidades, faixa de foco de 30 mm, precisão de posicionamento repetido: 0,1 μm, mecanismo motorizado de fuga e recuperação | ● | ● | |
| Máx.SAltura do espécime | 76mm | ● | ||
| 56mm | ● | |||
| Estágio | Estágio mecânico de dupla camada XY motorizado de alta precisão, tamanho 275 X 239 X 44,5 mm; curso: eixo X, 125 mm; Eixo Y, 75mm. Precisão de posicionamento repetido ± 1,5 μm, velocidade máxima 20 mm/s | ● | ● | |
| Suporte de wafer: pode ser usado para segurar wafer de 2”, 3”, 4” | ○ | ○ | ||
| Kit DIC | Kit DIC para iluminação refletida (can ser usado para objetivas 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
| Kit Polarizador | Polarizador para iluminação refletida | ○ | ○ | |
| Analisador de iluminação refletida,0-360°giratório | ○ | ○ | ||
| Polarizador para iluminação transmitida | ○ | |||
| Analisador para iluminação transmitida | ○ | |||
| Outros acessórios | Adaptador de montagem C 0,5X | ○ | ○ | |
| 1X adaptador de montagem C | ○ | ○ | ||
| Capa contra poeira | ● | ● | ||
| Cabo de alimentação | ● | ● | ||
| Slide de calibração 0,01 mm (micrômetro de estágio) | ○ | ○ | ||
| Prensador de amostra | ○ | ○ | ||
Observação: ● Traje Padrão, ○ Opcional
Certificado
Logística
Microscópio metalúrgico ereto de pesquisa motorizada BS-6026
