Microscópio metalúrgico ereto da pesquisa BS-6024TRF
BS-6024TRF
Introdução
Os microscópios metalúrgicos verticais da série BS-6024 foram desenvolvidos para pesquisa com uma série de designs pioneiros em aparência e funções, com amplo campo de visão, alta definição e objetivos metalúrgicos semi-apocromáticos de campo claro/escuro e sistema operacional ergonômico, eles nascem para fornecer uma solução de pesquisa perfeita e desenvolver um novo padrão de campo industrial.
Características
1. Excelente sistema óptico infinito.
Com o excelente sistema óptico infinito, o microscópio metalúrgico vertical da série BS-6024 fornece imagens de alta resolução, alta definição e correção de aberração cromática que podem exibir muito bem os detalhes de sua amostra.
2. Projeto Modular.
Os microscópios da série BS-6024 foram projetados com modularidade para atender a diversas aplicações industriais e de ciência de materiais. Dá aos usuários flexibilidade para construir um sistema para necessidades específicas.
3. Função ECO.
A luz do microscópio apagará automaticamente após 15 minutos da saída dos operadores. Não só economiza energia, mas também economiza a vida útil da lâmpada.
4. Confortável e fácil de usar.
(1) Objetivos Semi-APO e APO do Plano Infinito NIS45.
Com vidro altamente transparente e tecnologia de revestimento avançada, a lente objetiva NIS45 pode fornecer imagens de alta resolução e reproduzir com precisão a cor natural das amostras. Para aplicações especiais, uma variedade de objetivas está disponível, incluindo polarização e longa distância de trabalho.
(2) Nomarski DIC.
Com o módulo DIC recém-projetado, a diferença de altura de uma amostra que não pode ser detectada com campo claro torna-se uma imagem em relevo ou 3D. É ideal para a observação de partículas condutoras de LCD e arranhões na superfície do disco rígido, etc.
(3) Sistema de focagem.
Para tornar o sistema adequado aos hábitos operacionais dos operadores, o botão de foco e estágio pode ser ajustado para o lado esquerdo ou direito. Este design torna a operação mais confortável.
(4) Cabeça Trinocular Inclinável Ergo.
O tubo da ocular pode ser ajustável de 0 ° a 35 ° ， O tubo trinocular pode ser conectado à câmera DSLR e à câmera digital, tendo um divisor de feixe de 3 posições (0:100, 100:0, 80:20), a barra divisora pode ser montado em ambos os lados de acordo com a necessidade do usuário.
5. Vários métodos de observação.
Campo Escuro (Wafer)
Darkfield permite a observação de luz espalhada ou difratada da amostra. Qualquer coisa que não seja plana reflete essa luz, enquanto tudo que é plano parece escuro, de modo que as imperfeições se destacam claramente. O usuário pode identificar a existência de até mesmo um pequeno arranhão ou falha até o nível de 8 nm – menor que o limite de potência de resolução de um microscópio óptico. Darkfield é ideal para detectar pequenos arranhões ou falhas em uma amostra e examinar amostras de superfície espelhada, incluindo wafers.
Contraste de interferência diferencial (partículas condutoras)
DIC é uma técnica de observação microscópica na qual a diferença de altura de uma amostra não detectável com campo claro torna-se uma imagem em relevo ou tridimensional com melhor contraste. Esta técnica utiliza luz polarizada e pode ser personalizada com a escolha de três prismas especialmente projetados. É ideal para examinar amostras com diferenças de altura mínimas, incluindo estruturas metalúrgicas, minerais, cabeças magnéticas, mídia de disco rígido e superfícies de wafer polidas.
Observação de luz transmitida (LCD)
Para amostras transparentes, como LCDs, plásticos e materiais de vidro, a observação da luz transmitida está disponível usando uma variedade de condensadores. O exame de amostras em campo claro transmitido e luz polarizada pode ser realizado em um sistema conveniente.
Luz Polarizada (Amianto)
Esta técnica de observação microscópica utiliza luz polarizada gerada por um conjunto de filtros (analisador e polarizador). As características da amostra afetam diretamente a intensidade da luz refletida através do sistema. É adequado para estruturas metalúrgicas (ou seja, padrão de crescimento de grafite em ferro fundido nodular), minerais, LCDs e materiais semicondutores.
Aplicativo
Os microscópios da série BS-6024 são amplamente utilizados em institutos e laboratórios para observar e identificar a estrutura de vários metais e ligas, também podem ser usados na indústria eletrônica, química e de semicondutores, como wafer, cerâmica, circuitos integrados, chips eletrônicos, impressos placas de circuito, painéis LCD, filme, pó, toner, fio, fibras, revestimentos revestidos, outros materiais não metálicos e assim por diante.
Especificação
| Item | Especificação | BS-6024RF | BS-6024TRF | |
| Sistema Óptico | Sistema óptico com correção de cor infinita NIS45 (comprimento do tubo: 200 mm) | ● | ● | |
| Cabeça de visualização | Cabeça Trinocular Inclinável Ergo, ajustável 0-35° inclinada, distância interpupilar 47mm-78mm; relação de divisão ocular: trinocular = 100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ● | ● | |
| Cabeça Trinocular Seidentopf, inclinada 30°, distância interpupilar: 47mm-78mm; relação de divisão ocular: trinocular = 100:0 ou 20:80 ou 0:100 | ○ | ○ | ||
| Cabeça binocular Seidentopf, inclinada 30°, distância interpupilar: 47mm-78mm | ○ | ○ | ||
| Ocular | Ocular de plano de campo super amplo SW10X/25mm, dioptria ajustável | ● | ● | |
| Ocular de plano de campo super amplo SW10X/22mm, dioptria ajustável | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo extra amplo EW12.5X/16mm, ajustável em dioptria | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo amplo WF15X/16mm, ajustável em dioptria | ○ | ○ | ||
| Ocular de plano de campo amplo WF20X/12mm, ajustável em dioptria | ○ | ○ | ||
| Objetivo | Objetivo Semi-APO do Plano LWD Infinito NIS45 (BF e DF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA = 0,45, WD = 3,0 mm | ● | ● | ||
| Objetivo APO do plano LWD infinito NIS45 (BF e DF) | 50X/NA = 0,8, WD = 1,0 mm | ● | ● | |
| 100X/NA = 0,9, WD = 1,0 mm | ● | ● | ||
| Objetivo Semi-APO do Plano LWD Infinito NIS60 (BF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA = 0,45, WD = 3,0 mm | ○ | ○ | ||
| Objetivo APO do Plano LWD Infinito NIS60 (BF) | 50X/NA = 0,8, WD = 1,0 mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA = 0,9, WD = 1,0 mm | ○ | ○ | ||
| Porta-objetivas
| Porta-objetivas sêxtuplo para trás (com slot DIC) | ● | ● | |
| Condensador | Condensador LWD NA0.65 | ○ | ● | |
| Iluminação Transmitida | Lâmpada halógena 24V/100W, iluminação Kohler, com filtro ND6/ND25 | ○ | ● | |
| Lâmpada S-LED de 3W, centro predefinido, intensidade ajustável | ○ | ○ | ||
| Iluminação refletida | Luz refletida Lâmpada halógena 24V/100W, iluminação Koehler, com torre de 6 posições | ● | ● | |
| Casa de lâmpada halógena de 100W | ● | ● | ||
| Luz refletida com lâmpada LED de 5W, iluminação Koehler, com torre de 6 posições | ○ | ○ | ||
| Módulo de campo claro BF1 | ○ | ○ | ||
| Módulo de campo claro BF2 | ● | ● | ||
| Módulo de campo escuro DF | ● | ● | ||
| Filtro ND6, ND25 integrado e filtro de correção de cores | ○ | ○ | ||
| Função ECO | Função ECO com botão ECO | ● | ● | |
| Foco | Focagem coaxial grossa e fina de baixa posição, divisão fina 1μm, faixa móvel 35mm | ● | ● | |
| Máx. Altura da amostra | 76 mm | ● |
| |
| 56mm |
| ● | ||
| Estágio | Estágio mecânico de dupla camada, tamanho 210mmX170mm; faixa móvel 105mmX105mm (alça direita ou esquerda); precisão: 1mm; com superfície oxidada dura para evitar abrasão, a direção Y pode ser bloqueada | ● | ● | |
| Suporte de wafer: pode ser usado para segurar wafer de 2”, 3”, 4” | ○ | ○ | ||
| Kit DIC | Kit DIC para iluminação refletida (pode ser usado para objetivas 10X, 20X, 50X, 100X) | ○ | ○ | |
| Kit Polarizador | Polarizador para iluminação refletida | ○ | ○ | |
| Analisador para iluminação refletida, 0-360°giratório | ○ | ○ | ||
| Polarizador para iluminação transmitida |
| ○ | ||
| Analisador para iluminação transmitida |
| ○ | ||
| Outros acessórios | Adaptador de montagem C 0,5X | ○ | ○ | |
| 1X adaptador de montagem C | ○ | ○ | ||
| Capa contra poeira | ● | ● | ||
| Cabo de alimentação | ● | ● | ||
| Corrediça de calibração 0,01 mm | ○ | ○ | ||
| Prensador de amostra | ○ | ○ | ||
Observação: ● Roupa Padrão, ○ Opcional
Diagrama do sistema
Dimensão
BS-6024RF
BS-6024TRF
Unidade: mm
Certificado
Logística
